多結晶シリコン薄膜トランジスタの電気特性解析とデバイスシミュレーションによる表裏絶縁膜界面と結晶粒界のトラップ準位の評価 - I-Scover metadata
ARTICLE

多結晶シリコン薄膜トランジスタの電気特性解析とデバイスシミュレーションによる表裏絶縁膜界面と結晶粒界のトラップ準位の評価

Metadata details

now loading...

Related ARTICLE(s)

now loading...

Related metadata

now loading...

Search by external websites

now loading...

Login 日本語