完全空乏型SOI MOSFETのサブスレッショルド係数の バックゲート特性を用いた構造パラメータ評価手法 - I-Scover metadata
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完全空乏型SOI MOSFETのサブスレッショルド係数の バックゲート特性を用いた構造パラメータ評価手法

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